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芯片微观结构分析,FIB,TEM,SEM,Nanoprobe

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最后更新: 2021-09-12 23:40
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公司基本资料信息
详细说明
 一颗复杂的芯片会轻易拥有超过1亿个晶体管,并且最小线宽在16纳米,纳米颗粒大小在5纳米。在这种尺度下,微观结构分析只能使用电子显微镜(TEM/SEM)
 
另一方面,绝大部分的微观分析无法在表面进行而是要在掩埋的深层处。因此,专门的样品准备技术成为精确的定位以及成功切片的关键所在。双束聚焦粒子束(Dual Beam FIB) 是现今TEM样品准备的必备仪器。
 
在胜科纳米,我们的芯片分析服务可以帮助您解决在产品研发和大规模生产阶段所遇到的问题。通过多年的实际应用经验以及“能”的工作态度,我们的员工以坚定态度的实现着我们的服务承诺。
 
胜科纳米提供的微观成像分析服务包括:
透射电镜(TEM)
双束聚焦离子束(FIB)
场发射扫描电镜(FE-SEM)
激光显微镜(LSM)
原子力显微镜(AFM)
红外显微镜(IR Microscopy)
2维X光成像(2D X-Ray)
3维X光成像(3D X-Ray / CT) 
阴影云纹干涉(Shadow Moire)

材料的成分与结构决定了材料的特性,尤其是微观尺度下的表面与界面的成分与结构特性起着关键作用。胜科纳米拥有一系列以表面分析为代表的材料分析手段,可以实现高灵敏度、高精度定量或半定量分析,广泛用于研究分析亚微米和纳米级的表面缺陷。通过结合离子束剥蚀,表面分析应用还可以扩展到3D材料分析,为广泛产业提供技术支持,如半导体产业,数据存储,薄膜,聚合物和纳米科技等。
 
胜科纳米提供的材料表征分析服务包括:
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
动态二次离子质谱仪(Dynamic SIMS)
X射线光电子能谱仪(XPS)
俄歇电子能谱仪(AES)
能量色散X射线光谱仪(EDX)
傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)
全反射X射线荧光谱仪(TXRF)
原子力显微镜(AFM)
纳米压痕(Nano-Indentation)
光谱型椭偏仪(Spectroscopy Ellipsometry)
凝胶色谱(GPC)
X射线衍射(XRD)
透射电镜(TEM)
场发射扫描电镜(FE-SEM)
电子背散射衍射(EBSD)
电子探针(EPMA)
气相色谱(GC-MS)
电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)
 
胜科纳米:
Your Trusted World Leading Analytical
Service Solution Provider
胜科纳米WinTech Nano是世界顶尖的独立第三方实验室,提供材料分析和失效分析服务。公司由苏州领军人物领导,团队拥有十多年海外从业经历,实验室获得多个国际及国家认证,并通过华为认证、海思认证、Broadcom认证。实验室拥有世界一流的高端分析仪器,专家级分析人员熟悉工艺流程,有超强的实验设计及分析能力。7天24小时不间断的一站式服务,为产品的研发、生产、客服提供最专业最快捷的分析服务。
我们的服务宗旨是通过我们的专业,高效以及先进的仪器设备使客户满意。
 
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